——广泛应用的X射线荧光分析仪

和XUL系列一样，FISCHERSCOPE®X射线XAN®仪器非常适合分析简单形状的样品。然而，XAN系列的一大优势在于其高质量的半导体探测器。X射线荧光不仅可以测量镀层的厚度，还可以分析合金（例如铜）的成分。

XAN系列总共包括5款台式XRF光谱仪，涵盖广泛的应用范围。XAN215具有经济高效的PIN检测器。非常适合简单的镀层厚度任务，例如铁上的锌层或Au/Ni/Cu。对于更复杂的合金或贵金属应用，我们建议使用带有硅漂移检测器SDD的设备（例如XAN220）：由于其分辨率更高，可以可靠地区分金和铂。当您需要检测痕量重金属和其他有害物质时，XAN250是您的较LX选择。
能量色散X射线荧光分析仪FISCHERSCOPE X-RAY XAN特点：
▷根据DIN ISO 3497和ASTM B 568标准进行金属和贵金属分析，镀层厚度测量和RoHS筛查的通用X射线荧光光谱仪
▷高性能半导体检测器（PIN和SDD） 确保出色的检测精度和高分辨率
▷XAN 250和252：用于测量铝，硅或硫之类的轻元素；
▷准直器：固定或4种可切换，Z小测量点约为0.3mm
▷基本滤片：固定或6种可切换
▷固定样品支架或手动XY载物台
▷摄像头可轻松定位较佳测量位置
▷样品高度Z多17厘米;
能量色散X射线荧光分析仪FISCHERSCOPE X-RAY XAN应用：
▷牙科合金的无损分析，银测试
▷多层镀层测试
▷电子和半导体行业中厚度为10nm以上的功能涂层的分析
▷消费者保护中的痕量分析，例如测试玩具中的铅含量
▷根据珠宝业和炼油厂高精度要求测量金属合金含量